Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 335
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
JIS C5630-1:2017
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 1: Terms and definitions
Norma vydaná dňa 21.3.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-12:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Norma vydaná dňa 20.2.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-13:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
Norma vydaná dňa 20.2.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-18:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Norma vydaná dňa 22.12.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-19:2014
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 19: Electronic compasses
Norma vydaná dňa 22.12.2014
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-2:2009
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Norma vydaná dňa 20.3.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-20:2015
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 20: Gyroscopes
Norma vydaná dňa 20.11.2015
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-26:2017
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures
Norma vydaná dňa 20.10.2017
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-28:2020
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices
Norma vydaná dňa 23.3.2020
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
JIS C5630-3:2009
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Norma vydaná dňa 20.3.2009
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 3340 až 3350 z celkom 11691 záznamov.
Potrebujete pomoc?
