GB - Čínské národní normy - strana 7296

Normy GB - Čínské národní normy - strana 7296

Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy GB - strana 7296" podľa:    


GB 2456-1981 NEPLATNÁ

Sulphur for industrial use--Determination of arsenic content

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1981

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
207.90


do 2 pracovných dní
GB 2457-1981 NEPLATNÁ

Sulphur for industrial use--Determination of iron con-tent

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1981

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
207.90


do 2 pracovných dní
GB/T 24578-2009 NEPLATNÁ

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
500.40


do 3 pracovných dní
GB/T 24578-2015 NEPLATNÁ

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2015

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
333.20


do 3 pracovných dní
GB 2458-1981 NEPLATNÁ

Sulphur in powder form--Determination of sieved re- mains

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1981

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
207.90


do 2 pracovných dní
GB/T 24581-2009 NEPLATNÁ

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for - impurities

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
458.60


do 3 pracovných dní
GB/T 24582-2009 NEPLATNÁ

Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
333.20


do 3 pracovných dní
GB/T 24583.1-2009 NEPLATNÁ

Vanadium-Nitrogen alloy—Determination of vanadium content—The ammonium ferrous sulfate titration method

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
249.70


do 3 pracovných dní
GB/T 24583.2-2009 NEPLATNÁ

Vanadium—Nitrogen alloy—Determination of nitrogen content—Thermal conductimetric method after fusion in a current of inert gas

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
291.50


do 3 pracovných dní
GB/T 24583.3-2009 NEPLATNÁ

Vanadium-Nitrogen alloy-Determination of nitrogen content—The distillation-neutralization titration method

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.10.2009

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
291.50


do 3 pracovných dní

Zobrazený záznam od 72950 až 72960 z celkom 92307 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.