Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 24578-2015
Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
NORMA vydaná dňa 10.12.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 24578-2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2015
Kód tovaru: NS-647951
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
