Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB - Čínské národní normy - strana 6342
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
GB/T 14844-1993
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Designations of semiconductor materials
NEPLATNÁ vydaná dňa 24.12.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14845-1993
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Titanium sheet for plate heat exchangers
NEPLATNÁ vydaná dňa 24.12.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14846-1993
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Wrought aluminium and aluminium alloy extruded profiles—Tolerances on dimensions and shape
NEPLATNÁ vydaná dňa 24.12.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14846-2008
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Aluminium and aluminium alloy extruded profiles—Tolerances on dimensions and form
NEPLATNÁ vydaná dňa 31.3.2008
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14847-1993
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance
NEPLATNÁ vydaná dňa 24.12.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14847-2010
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Test mothod for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14848-1993
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Quality standard for ground water
NEPLATNÁ vydaná dňa 30.12.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14849.1-1993
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Silicon metal—Determination of iron content—1,10-Phenanthroline spectrophotometric method
NEPLATNÁ vydaná dňa 24.12.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14849.1-2007
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 1:Determination of iron content—1,10-Phenanthrolion spectrophotometric method
NEPLATNÁ vydaná dňa 25.10.2007
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
GB/T 14849.2-1993
NEPLATNÁ
Zobraziť všetky technické informácie
Silicon metal—Determination of aluminum content—Chrome azurol S spectrophotometric method
NEPLATNÁ vydaná dňa 24.12.1993
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 63410 až 63420 z celkom 94224 záznamov.
Potrebujete pomoc?
