Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument
Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of titanium dioxide content--Diantiprylmehane photometric method
Norma vydaná dňa 5.2.2004
Vybraný formát:
Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina—Part 7:Determination of titanium dioxide, chromium sesquioxide, cupric oxide,fluorine, chlorine, boron trioxide, phosphorus pentoxide, sulfate contents—Spectrophotometry method
K dispozici od: prosinec 2026
Norma vydaná dňa 25.5.2026
Vybraný formát:Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of chromium sesquioxide content--Diphenyl carbazide photometric method
Norma vydaná dňa 5.2.2004
Vybraný formát:Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina--Determination of cupric oxide content--29-Dimethyl-110 phenanthroline photometric method
Norma vydaná dňa 5.2.2004
Vybraný formát:Chemical reagent - Ammonium iron(II) sulfate hexahydrate
Norma vydaná dňa 12.5.2011
Vybraný formát:Terminology and atlas for titanium and titanium alloys
Norma vydaná dňa 5.10.2025
Vybraný formát:Titanium and titanium alloy castings
Norma vydaná dňa 3.9.2014
Vybraný formát:Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
Norma vydaná dňa 6.8.2023
Vybraný formát:Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 52910 až 52920 z celkom 95082 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-10-27 (Počet položiek: 2 208 060)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.