Pozor!

Vo Vašom prehliadači nie je aktuálne povolené spúšťanie Javascriptu. Je možné, že niektoré funkcie nebudú fungovať správne. Pre plnú funkčnosť internetového obchodu odporúčame povoliť Javascript. Tu sú inštrukcie ako povoliť JavaScript vo Vašom webovom prehliadači.

Zobrazovaná mena: €

Zobrazenie ceny: bez DPH

GB/T 6617-2009

Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe

NORMA vydaná dňa 30.10.2009

Jazyk
Prevedenie	Elektronické PDF - 198.90 € Tlačené - 198.90 €
Dostupnosť	do 3 pracovných dní
Cena	198.90 € bez DPH
198.90 €

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 6617-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Kód tovaru: NS-888241
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB

Tlač

Odoslať známemu

Otázka

Kategórie - podobné normy:

Polovodičové materiály

Doporučujeme:

Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.