GB - Všetky - strana 8780 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6618-1995 NEPLATNÁ

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (369.10 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

369.10 €

do 3 pracovných dní

GB 6619-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (204.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

204.60 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6619-1995 NEPLATNÁ

Test methods for bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (286.80 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

286.80 €

do 3 pracovných dní

GB 662-1978 NEPLATNÁ

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1978

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA OTÁZKU)

Zobraziť všetky technické informácie

NA OTÁZKU

Nie je na sklade

GB 6620-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (245.70 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

245.70 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6620-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (286.80 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

286.80 €

do 3 pracovných dní

GB 6621-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (245.70 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

245.70 €

do 2 pracovných dní

GB/T 6621-1995 NEPLATNÁ

Test methods for surface flatness of silicon polished slices

NEPLATNÁ vydaná dňa 18.4.1995

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (451.30 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

451.30 €

do 4 pracovných dní

GB 6622-1986 NEPLATNÁ

Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (204.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

204.60 €

do 3 pracovných dní

GB 6623-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1986

Vybraný formát:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (204.60 EUR)

Zobraziť všetky technické informácie

204.60 €

do 2 pracovných dní

Zobrazený záznam od 87790 až 87800 z celkom 94224 záznamov.