Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Mechanical vibration and shock—Vibration of fixed structures—Guidelines for the measurement of vibrations and evaluation of their effects on structures
Norma vydaná dňa 31.12.2024
Vybraný formát:Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings
Norma vydaná dňa 17.3.2023
Vybraný formát:Silicon epitaxial wafers
Norma vydaná dňa 4.6.2019
Vybraný formát:General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
Norma vydaná dňa 9.6.2013
Vybraný formát:Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Norma vydaná dňa 1.8.2025
Vybraný formát:Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
Norma vydaná dňa 29.9.2017
Vybraný formát:Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
Norma vydaná dňa 30.10.2009
Vybraný formát:Test method for carrier concentration of silicon epitaxial layers—Capacitance-voltage method
Norma vydaná dňa 21.5.2021
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 3720 až 3730 z celkom 94552 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-09-18 (Počet položiek: 2 301 509)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.