Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
NORMA vydaná dňa 30.10.2009
Označenie normy: GB/T 14141-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Kód tovaru: NS-864356
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-05-13 (Počet položiek: 2 276 848)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.