Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Nové normy GB - strana 27" podľa:    


GB/T 48155-2026

Technical specification for bridge plug setting and cluster perforating operation
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48156-2026

Aerospace-nuts, barrel, self-locking, floating, self-aligning, with MJ threads—Dimensions
K dispozici od: prosinec 2026

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48157-2026

Petroleum and natural gas—General method for low-field nuclear magnetic resonance relaxation analysis
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48158-2026

Aerospace-Nuts, reduced hexagonal,thin, with MJ threads—Dimensions
K dispozici od: prosinec 2026

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48159-2026

AerospaceGeneral specifications for hydraulic power transfer units
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48160-2026

Aerospace—Couplings, threaded and sealed, for fluid systems
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48161-2026

Natural gas—Determination of trace metallic elements—Inductively coupled plasma mass spectrometry
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48162-2026

Rotorcrafts—Flight dynamics—Vocabulary and symbol
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48164.1-2026

Semiconductor devices—Reliability test method for silicon carbide metal-oxide semiconductor field effect transistors (SiC MOSFET)—Part 1: Test method for bias temperature instability
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade
GB/T 48164.2-2026

Semiconductor devices—Reliability test method for silicon carbide metal-oxide semiconductor field effect transistors (SiC MOSFET)—Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
K dispozici od: březen 2027

Norma vydaná dňa 28.8.2026

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


Nie je na sklade

Zobrazený záznam od 260 až 270 z celkom 306 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.