Normy BS - Britské národní normy - strana 3677

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly.

Norma vydaná dňa 16.8.2022

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly.

Norma vydaná dňa 15.9.2022

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Rapid change of temperature. Two-fluid-bath method.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní. (Text normy není součástí výtisku).)

Norma vydaná dňa 24.10.2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency.

Norma vydaná dňa 18.4.2018

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere.

Norma vydaná dňa 30.4.2018

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 14: Pevnost vývodů (neporušenost přívodů). )

Norma vydaná dňa 15.12.2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices.

Norma vydaná dňa 1.10.2020

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Particle impact noise detection (PIND).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 16: Zjišťování šumu způsobeného nárazem částic (PIND). )

Norma vydaná dňa 24.6.2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.

Norma vydaná dňa 15.5.2019

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron irradiation.

Norma vydaná dňa 24.2.2020