Metallic materials. Verification of static uniaxial testing machines. Tension creep testing machines. Verification of the applied load.
(Kovové materiály - Ověřování statických jednoosých zkušebních strojů - Část 2: Trhací stroje pro zkoušky tečení - Ověřování užitého zatížení.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.9.1999

Specification for marking of recycled paper board.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.3.1995

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Signal diodes, switching diodes and controlled avalanche diodes.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.11.1986

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Voltage-regulator diodes and voltage-reference diodes, excluding temperature-compensated precision reference diodes.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.9.1987

Identification cards. Machine readable travel documents. Machine readable passport.
(Identifikační karty. Strojově čitelné cestovní doklady. Část 1: Strojově čitelný cestovní pas (ISO/IEC 7501-1: 1993) (Text normy není součástí výtisku).)

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.12.1995

Identification cards. Machine readable travel documents. Machine readable passport.
(Identifikační karty - Strojově čitelné cestovní doklady - Část 1: Strojově čitelný cestovní pas.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 16.1.2006

Identification cards. Machine readable travel documents. Machine readable official travel documents.
(Identifikační karty - Strojově čitelné cestovní doklady - Část 3: Strojově čitelné služební cestovní doklady (Text normy není součástí výtisku).)

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.8.1997

General criteria for the operation of testing laboratories.

NEPLATNÁ vydaná dňa 31.10.1989

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Ambient-rated bipolar transistors for low and high-frequency amplification.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.2.1990

Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor discrete devices. Blank detail specification. Case-rated bipolar transistors for low-frequency amplification.

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.2.1990