ASTM - Americké technické normy - strana 9102

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 9102

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 9102" podľa:    


ASTM F98-72(1977) Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Withdrawn 1990)

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


do 1 pracovných dní
ASTM F98-72(1977)e1 Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1977

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
66.10


SKLADOM
ASTM F98-72(2077)e1 Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1977

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
66.10


SKLADOM
ASTM F980-10 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F980-10e1 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices (Includes all amendments And changes 2/2/2017).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F980-16 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F980-92 Historická

Guide for The Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1992

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F980M-96 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F980M-96(2003) Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F981-04 Historická

Standard Practice for Assessment of Compatibility of Biomaterials for Surgical Implants with Respect to Effect of Materials on Muscle and Bone

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2004

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM

Zobrazený záznam od 91010 až 91020 z celkom 92228 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.