ASTM F980-92

Guide for The Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

Automaticky preložený názov:

Sprievodca pre meranie Rapid Žíhanie Neutron vyvolané objemového škodu v Silicon polovodičových súčiastok



NORMA vydaná dňa 1.1.1992


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena79.90 bez DPH
79.90

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F980-92
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1992
Kód tovaru: NS-57153
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F980-92 :

Keywords:

Annealing, Defects-semiconductors, Destructive testing-semiconductors, Displacement damage, Electrical conductors-semiconductors, Electronic hardness, Hardness tests-radiation (of semiconductors), Integrated circuits, Neutron radiation, Pulsed neutron-radiation source, Radiation exposure-electronic components/devices, Radiation-hardness testing, Short term damage, Vulnerability, rapid annealing of neutron-induced displacement damage in semiconductor, devices, guide,, Rapid annealing effects

Odporúčame:

Aktualizácia zákonov

Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.