ASTM - Americké technické normy - strana 9025

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 9025

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 9025" podľa:    


ASTM F949-15(2019) Historická

Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2019

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
82.50


SKLADOM
ASTM F949-20 Historická

Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.2.2020

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
82.50


SKLADOM
ASTM F95-89(2000) Historická

Standard Test Method for Thickness of Lightly Doped Silicon Epitaxial Layers on Heavily Doped Silicon Substrates Using an Infrared Dispersive Spectrophotometer (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2000

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F950-02 Historická

Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F950-98 Historická

Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F951-01 Historická

Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F951-02 Historická

Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F951-96 Historická

Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F952-03 Historická

Standard Specification for Mixing Machines, Food, Electric

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.2003

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM
ASTM F952-08 Historická

Standard Specification for Mixing Machines, Food, Electric

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.4.2008

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.90


SKLADOM

Zobrazený záznam od 90240 až 90250 z celkom 91586 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.