ASTM - Americké technické normy - strana 8974

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8974

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 8974" podľa:    


ASTM F978-90(1996)e1 Historická

Standard Test Method for Characterizing Semiconductor Deep Levels by Transient Capacitance Techniques (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2001

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
74.50


SKLADOM
ASTM F979-86(1998)e1 Historická

Standard Test Method for Hermeticity of Hybrid Microcircuit Packages Prior to Lidding (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
66.70


SKLADOM
ASTM F979-86(2003) Historická

Standard Test Method for Hermeticity of Hybrid Microcircuit Packages Prior to Lidding (Withdrawn 2009)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
66.70


SKLADOM
ASTM F98-72(1977) Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Withdrawn 1990)

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
NA OTÁZKU


do 1 pracovných dní
ASTM F98-72(1977)e1 Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1977

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
66.70


do 1 pracovných dní
ASTM F98-72(2077)e1 Historická

Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1977

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
66.70


do 1 pracovných dní
ASTM F980-10 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
74.50


SKLADOM
ASTM F980-10e1 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices (Includes all amendments And changes 2/2/2017).

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
74.50


SKLADOM
ASTM F980-16 Historická

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2016

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
74.50


SKLADOM
ASTM F980-92 Historická

Guide for The Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1992

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
74.50


do 1 pracovných dní

Zobrazený záznam od 89730 až 89740 z celkom 90937 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.