Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Evaluating the Quality of Molded Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Pipe Fittings by the Heat Reversion Technique (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.8.2000
Vybraný formát:Standard Test Method for Evaluating the Quality of Molded Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Pipe Fittings by the Heat Reversion Technique (Includes all amendments And changes 12/31/2010).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2005
Vybraný formát:Standard Test Method for Evaluating the Quality of Molded Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Pipe Fittings by the Heat Reversion Technique (Includes all amendments And changes 12/31/2010).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.8.2009
Vybraný formát:Standard Test Method for Evaluating the Quality of Molded Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Pipe Fittings by the Heat Reversion Technique
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.4.2010
Vybraný formát:Standard Practice for Evaluating the Quality of Molded Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Pipe Fittings by the Heat Reversion Technique
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2015
Vybraný formát:Test Method for Wavefront Distortion of Nominally Plane Optical Elements Due to Refractive Index Inhomogeneity (Withdrawn 1994)
Vybraný formát:Practice for Cleaning Surfaces of Polished Silicon Slices (Withdrawn 1993)
Vybraný formát:Test Method for Measuring Diameter of Semiconductor Wafers (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1993
Vybraný formát:Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Withdrawn 1996)
Vybraný formát:Test Method for Distortion of Optical Lenses Used in Photomask Fabrication (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1991
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 88880 až 88890 z celkom 91661 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-06-12 (Počet položiek: 2 281 969)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.