ASTM - Americké technické normy - strana 8298

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8298

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 8298" podľa:    


ASTM F1892-12(2018) Historická

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2018

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
119.30


SKLADOM
ASTM F1892-98 Historická

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
109.60


SKLADOM
ASTM F1893-11 Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2011

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F1893-18 Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices (Withdrawn 2023)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2018

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F1893-98 Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F1893-98(2003) Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F1894-98 Historická

Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F1894-98(2003) Historická

Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F1894-98(2011) Historická

Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness (Withdrawn 2020)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2011

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
75.40


SKLADOM
ASTM F1895-10 Historická

Practice for Submersion of a Membrane Switch

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2010

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.50


SKLADOM

Zobrazený záznam od 82970 až 82980 z celkom 91811 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.