Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM F1893-98(2003)
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices
Automaticky preložený názov:
Príručka pre meranie ionizujúceho Dose - Rate Burnout polovodičových prvkov
NORMA vydaná dňa 10.5.1998
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM F1893-98(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.5.1998
Kód tovaru: NS-51995
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM F1893-98(2003) :
Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Doplňujúce informácie
| 1. Scope | ||||||||||
|
1.1 This guide defines the detailed requirements for testing microcircuits for short pulse high dose-rate ionization-induced failure. Large flash x-ray (FXR) machines operated in the photon mode, or FXR e-beam facilities are required because of the high dose-rate levels that are necessary to cause burnout. Two modes of test are possible (1) survival test, and (2) A failure level test. 1.2 The values stated in International System of Units (SI) are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this standard. |
||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||
|
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
