Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2001
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2001
Vybraný formát:Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997
Vybraný formát:Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997
Vybraný formát:Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 81640 až 81650 z celkom 91263 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-04-24 (Počet položiek: 2 274 650)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.