ASTM - Americké technické normy - strana 8165

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8165

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 8165" podľa:    


ASTM F1723-02 Historická

Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.40


SKLADOM
ASTM F1723-96 Historická

Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.40


SKLADOM
ASTM F1724-01 Historická

Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2001

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.40


SKLADOM
ASTM F1724-96 Historická

Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2001

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
73.40


SKLADOM
ASTM F1725-02 Historická

Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
65.70


SKLADOM
ASTM F1725-97 Historická

Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
65.70


SKLADOM
ASTM F1726-02 Historická

Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
65.70


SKLADOM
ASTM F1726-97 Historická

Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
65.70


SKLADOM
ASTM F1727-02 Historická

Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
65.70


SKLADOM
ASTM F1727-97 Historická

Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
65.70


SKLADOM

Zobrazený záznam od 81640 až 81650 z celkom 91263 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.