Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Recommended Practice for Identification of Crystaline Materials by the Hanawalt X-Ray Diffraction Method (Withdrawn 1962)
Vybraný formát:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Abridged Goniophotometry
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2005
Vybraný formát:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Abridged Goniophotometry
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2011
Vybraný formát:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Abridged Goniophotometry
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.11.2019
Vybraný formát:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Goniophotometry
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.7.1997
Vybraný formát:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Goniophotometry
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.2003
Vybraný formát:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1996
Vybraný formát:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1996
Vybraný formát:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2007
Vybraný formát:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2011
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 76860 až 76870 z celkom 92457 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-10-08 (Počet položiek: 2 304 582)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.