Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM E431-96(2002)
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
Automaticky preložený názov:
Štandardné Príručka pre interpretáciu röntgenových snímok polovodičov a súvisiacich zariadení
NORMA vydaná dňa 10.12.1996
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM E431-96(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.1996
Kód tovaru: NS-46758
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM E431-96(2002) :
Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographs, radiography, reference illustrations, semiconductors, x-ray, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Doplňujúce informácie
| 1. Scope | ||||||||
|
1.1 This guide provides illustrations of radiographs of semiconductors and related devices. Low powered transistors (through the TO-11 case configuration), diodes, low-power rectifiers, power devices, and integrated circuits are illustrated with common assembly features. Particular areas of construction are featured for these devices detailing critical points of design or assembly. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||
|
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
