Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 23 : VYSOKÁ TEPLOTA PREVÁDZKOVÉ LIFE
NORMA vydaná dňa 21.12.2011
Označenie normy: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Poznámka: Zmena
Dátum vydania normy: 21.12.2011
Kód tovaru: NS-560999
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě.)
Norma vydaná dňa 16.3.2005
Vybraný formát:
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-09-04 (Počet položiek: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.