UNE-EN 60749-30:2005..
UNE-EN 60749-31:2004..
UNE-EN 60749-32:2004..
UNE-EN 60749-33:2005..
UNE-EN 60749-36:2004..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-23:2005
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Automaticky preložený názov:
Polovodičových prvkov - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 23: vysoká teplota životnosť
NORMA vydaná dňa 16.3.2005
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-23:2005
Dátum vydania normy: 16.3.2005
Kód tovaru: NS-561000
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
K tejto norme patria tieto zmeny:
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Zmena
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě.)
Zmena vydaná dňa 21.12.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Podobné normy:
NEPLATNÁ
2.11.2005
18.3.2004
18.3.2004
16.3.2005
20.7.2011
18.3.2004
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
