Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 19 : DIE šmykové pevnosti
NORMA vydaná dňa 19.1.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Poznámka: Zmena
Dátum vydania normy: 19.1.2011
Kód tovaru: NS-560995
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Táto zmena (oprava) patrí k tejto norme:
UNE-EN 60749-19:2003
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem.)
Norma vydaná dňa 21.11.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
