Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
STN EN 62373 (358794)
Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
NORMA vydaná dňa 1.5.2007
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | Predaj skončil |
| Cena | NA OTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: STN EN 62373
Rozlišovací znak: 358794
Katalógové číslo: 103447
Dátum vydania normy: 1.5.2007
Kód tovaru: NS-532086
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Slovenská technická norma
Kategória: Technické normy STN
Odporúčame obdobnú normu!!
ČSN EN 62373 (01.03.2007)Kategórie - podobné normy:
Podobné normy:
1.1.1975
1.10.2010
1.10.2010
1.10.2010
1.11.2010
1.9.2014
Doporučujeme:
