Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
NORMA vydaná dňa 1.5.2007
Jazyk | |
Prevedenie |
|
Dostupnosť | Predaj skončil |
Cena | NA OTÁZKU bez DPH |
NA OTÁZKU |
Označenie normy: STN EN 62373
Rozlišovací znak: 358794
Katalógové číslo: 103447
Dátum vydania normy: 1.5.2007
Kód tovaru: NS-532086
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Slovenská technická norma
Kategória: Technické normy STN
NEPLATNÁ
1.1.1975
1.10.2010
1.10.2010
1.10.2010
1.11.2010
1.9.2014
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-25 (Počet položiek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.