Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS R1637:1998
Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
NORMA vydaná dňa 31.1.1998
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS R1637:1998
Dátum vydania normy: 31.1.1998
Kód tovaru: NS-1081251
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
