Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS K0169:2012
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
NORMA vydaná dňa 20.4.2012
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS K0169:2012
Dátum vydania normy: 20.4.2012
Kód tovaru: NS-1078735
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
