Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS K0149-1:2019
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
NORMA vydaná dňa 20.11.2019
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS K0149-1:2019
Dátum vydania normy: 20.11.2019
Kód tovaru: NS-1078715
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
