Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
JIS C2162:2010
Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature
NORMA vydaná dňa 23.3.2010
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: JIS C2162:2010
Dátum vydania normy: 23.3.2010
Kód tovaru: NS-1075015
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Japonská technická norma
Kategória: Technické normy JIS
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
