Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 14706:2014-ed.2.0
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Automaticky preložený názov:
Surface chemický rozbor - Stanovenie povrchovej elementárneho kontaminácie kremíkových plátkov podľa totálny odraz X-ray fluorescencie (TXRF) spektroskopia
NORMA vydaná dňa 25.7.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 14706:2014-ed.2.0
Dátum vydania normy: 25.7.2014
Kód tovaru: NS-425696
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
