ISO 14706:2014-ed.2.0

Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

NORMA vydaná dňa 25.7.2014

Anglicky -
Elektronické PDF (157.70 EUR)
Anglicky -
Tlačené (157.70 EUR)
Anglicky -
CD-ROM (159.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ISO 14706:2014-ed.2.0
Dátum vydania normy: 25.7.2014
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO