Norma IEC/TR 63133-ed.1.0 11.10.2017 náhľad

IEC/TR 63133-ed.1.0

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices



NORMA vydaná dňa 11.10.2017


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena147.70 bez DPH
147.70

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC/TR 63133-ed.1.0
Dátum vydania normy: 11.10.2017
Kód tovaru: NS-798321
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Kategórie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotácia textu normy IEC/TR 63133-ed.1.0 :

IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.