IEC/TR 63133-ed.1.0

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

NORMA vydaná dňa 11.10.2017

Anglicky -
Elektronické PDF (140.00 EUR)

Anglicky -

Tlačené (140.00 EUR)

Anglicky -

CD-ROM (141.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC/TR 63133-ed.1.0
Dátum vydania normy: 11.10.2017
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Anotácia textu normy IEC/TR 63133-ed.1.0 :

IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.