Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62047-10-ed.1.0/Cor.1
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
Automaticky preložený názov:
Oprava 1 - Polovodičové súčiastky - Micro - elektromechanické zariadenia - Časť 10 : Micro - stĺpik kompresie test pre MEMS materiály
NORMA vydaná dňa 28.2.2012
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62047-10-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Dátum vydania normy: 28.2.2012
Kód tovaru: NS-414097
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Táto zmena (oprava) patrí k tejto norme:
IEC 62047-10-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
(Dispositifs a semiconducteur - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour les materiaux des MEMS)
Norma vydaná dňa 26.7.2011
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
