Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Automaticky preložený názov:
Oprava 1 - Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 2 : Nízky tlak vzduchu
NORMA vydaná dňa 12.8.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Dátum vydania normy: 12.8.2003
Kód tovaru: NS-411379
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1 :
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.
Táto zmena (oprava) patrí k tejto norme:
IEC 60749-2-ed.1.0
Zobraziť všetky technické informácie
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)
Norma vydaná dňa 12.4.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Doporučujeme:
