Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-2-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 2: nízkeho tlaku vzduchu
NORMA vydaná dňa 12.4.2002
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-2-ed.1.0
Dátum vydania normy: 12.4.2002
Kód tovaru: NS-411380
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-2-ed.1.0 :
Covers the testing of low air pressure on semiconductor devices. The test is intended primarily to determine the ability of component parts and materials to avoid voltage breakdown failures due to the reduced dielectric strength of air and other insulating materials at reduced pressures is only applicable to devices where the operating voltage exceeds 1 000 V. This test is applicable to all semiconductor devices provided they are in cavity type packages. The test is intended for military and space-related applications only. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Decrit lessai de basse pression atmospherique applique aux dispositifs a semiconducteurs. Lessai est essentiellement destine a determiner la capacite des elements et des materiaux des composants a eviter les claquages provoques par la rigidite dielectrique amoindrie de lair et des autres materiaux isolants a des pressions reduites nest applicable quaux dispositifs dont la tension de fonctionnement depasse 1 000 V. Cet essai est applicable a tous les dispositifs a semiconducteurs qui sont installes dans des boitiers pourvus de cavites internes. Cet essai est uniquement destine aux applications militaires et spatiales. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
K tejto norme patria tieto opravy:
IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobraziť všetky technické informácie
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)
Oprava vydaná dňa 12.8.2003
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
