Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS.
          Automaticky preložený názov:
          Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 9: Wafer do plátkov lepenie meranie sily pre MEMS.        
      
NORMA vydaná dňa 1.3.2012
    
        Označenie normy: DIN EN 62047-9:2012-03
                
                
                
               
                Dátum vydania normy:  1.3.2012
                  Kód tovaru:  NS-239575
          Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
        Krajina:          Nemecká technická norma
        Kategória: Technické normy DIN
        
                
              
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 9: Prüfverfahren zur Festigkeit von Full-Wafer-Bondverbindungen in der Mikrosystemtechnik (MEMS).
  NEPLATNÁ
1.12.2011
1.12.2003
1.1.2011
1.9.2004
1.5.2011
1.3.2007
Posledná aktualizácia: 2025-11-03 (Počet položiek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.