Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 60749-35:2007-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 35: Acoustic mikroskopia, pre plastové zapuzdrenie elektronických súčiastok.
NORMA vydaná dňa 1.3.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 60749-35:2007-03
Dátum vydania normy: 1.3.2007
Kód tovaru: NS-237829
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN EN 60749-35:2007-03 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.
Podobné normy:
1.12.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.7.2004
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
