DIN EN 60749-35:2007-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.

NORMA vydaná dňa 1.3.2007

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (92.60 EUR)

Nemecky -

Tlačené (112.00 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (94.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-35:2007-03
Dátum vydania normy: 1.3.2007
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-35:2007-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.