Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
          Automaticky preložený názov:
          Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 12: únavu v ohybe skúšobnú metódu tenkých filmových materiálov využitím rezonančných vibrácie štruktúr MEMS.        
      
NORMA vydaná dňa 1.6.2012
    
        Označenie normy: DIN EN 62047-12:2012-06
                
                
                
               
                Dátum vydania normy:  1.6.2012
                  Kód tovaru:  NS-239563
          Počet strán: 31
Približná hmotnosť: 93 g (0.21 libier)
        Krajina:          Nemecká technická norma
        Kategória: Technické normy DIN
        
                
              
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen.
  NEPLATNÁ
1.11.2012
  NEPLATNÁ
1.11.2012
  NEPLATNÁ
1.5.2014
  NEPLATNÁ
1.5.2014
1.2.2007
1.3.2011
Posledná aktualizácia: 2025-11-03 (Počet položiek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.