Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 12: únavu v ohybe skúšobnú metódu tenkých filmových materiálov využitím rezonančných vibrácie štruktúr MEMS.
NORMA vydaná dňa 1.6.2012
Označenie normy: DIN EN 62047-12:2012-06
Dátum vydania normy: 1.6.2012
Kód tovaru: NS-239563
Počet strán: 31
Približná hmotnosť: 93 g (0.21 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen.
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.5.2014
NEPLATNÁ
1.5.2014
1.2.2007
1.3.2011
Posledná aktualizácia: 2024-09-25 (Počet položiek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.