Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 11: Skúšobná metóda pre koeficienty lineárnej tepelnej rozťažnosti voľne stojace materiálov pre mikro-elektromechanické systémy.
NORMA vydaná dňa 1.4.2014
Označenie normy: DIN EN 62047-11:2014-04
Dátum vydania normy: 1.4.2014
Kód tovaru: NS-239562
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 11: Prüfverfahren für lineare thermische Ausdehnungskoeffizienten für freistehende Werkstoffe der Mikrosystemtechnik.
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.2.2012
1.12.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.10.2006
NEPLATNÁ
1.5.2014
Posledná aktualizácia: 2024-09-25 (Počet položiek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.