Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 60749-6:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 6: Skladovanie pri vysokej teplote.
NORMA vydaná dňa 1.4.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 60749-6:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2003
Kód tovaru: NS-237837
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Anotácia textu normy DIN EN 60749-6:2003-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
