Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre detekciu oxidácie vyvolaných defektov z lešteného kremíkových plátkov ( Withdrawn 1998 )
Označenie normy: ASTM F416-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-55222
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-05-07 (Počet položiek: 2 897 585)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.