NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F416-94

Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)

Anglicky -
Elektronické PDF (76.60 EUR)
Anglicky -
Tlačené (76.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F416-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F416-94 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)