ASTM F1192-11(2018)

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices



NORMA vydaná dňa 1.3.2018


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena45.60 bez DPH
45.60

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1192-11(2018)
Dátum vydania normy: 1.3.2018
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotácia textu normy ASTM F1192-11(2018) :

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

Odporúčame:

EviNor - dokonalá evidencia Vašich technických noriem

Do detailu prepracovaný a praxou overený informačný systém s normalizačnou tématikou.
Mesačne aktualizované -> stále platné technické normy.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.


Tento web používa cookies. Ďalším prechádzaním tohto webu vyjadrujete súhlas s ich používaním. Viac informácií / Rozumiem