Normy UNE - Španělské národní normy - strana 5902

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 13: Solné ovzduší.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 30.5.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 21.11.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 15: Odolnost proti teplu při pájení součástek montovaných přes průchozí otvor.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 13.7.2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 17: Neutronové záření.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 21.11.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 18: Ionizující záření (celková dávka).)

NEPLATNÁ vydaná dňa 21.11.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 20: Odolnost v plastu zapouzdřených SMD součástek proti kombinovanému působení vlhkosti a tepla při pájení.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 11.6.2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 20: Odolnost v plastu zapouzdřených SMD součástek proti kombinovanému působení vlhkosti a tepla při pájení.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 6.10.2023

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 21: Solderability (Endorsed by AENOR in August of 2005.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 21: Pájitelnost.)

NEPLATNÁ vydaná dňa 12.5.2014

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM).)

NEPLATNÁ vydaná dňa 15.4.2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (Endorsed by AENOR in July of 2014.)
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM).)

NEPLATNÁ vydaná dňa 20.2.2021