Normy UNE - Španělské národní normy - strana 3397

Nuclear power plants - Instrumentation and control important to safety - Resistance temperature detectors (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2026.)
(Centrales nucleares. Instrumentación y control importantes para la seguridad. Detectores de temperatura de resistencia (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en julio de 2026.))

Norma vydaná dňa 1.7.2026

Specification for dedicated LPG appliances - Room sealed LPG space heating equipment for installation in vehicles and boats
(Spotřebiče spalující zkapalněné uhlovodíkové plyny - Uzavřené vytápěcí zařízení na zkapalněné uhlovodíkové plyny pro zabudování do vozidel a lodí.)

Norma vydaná dňa 11.10.2011

Radiation protection instrumentation - Alarming personal radiation devices (PRDs) for the detection of illicit trafficking of radioactive material (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2019.)
(Přístroje radiační ochrany - Výstražná osobní radiační zařízení (PRO) pro zjištění ilegálního obchodu s radioaktivním materiálem.)

Norma vydaná dňa 1.11.2019

Obsolescence management (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2019.)
(Gestión de la obsolescencia. (Ratificada por la Asociación Espanola de Normalización en agosto de 2019.))

Norma vydaná dňa 1.8.2019

High Density Recording Format on CD-R/RW disc system - HD-BURN format (Endorsed by AENOR in June of 2006.)
(Formát záznamu na disk CD-R/RW s vysokou hustotou - Formát HD-BURN.)

Norma vydaná dňa 1.6.2006

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
(Polovodičové součástky - Elektromigrační zkouška pomocí konstantního proudu.)

Norma vydaná dňa 1.9.2010

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkoušky horkých nosičů u MOS tranzistorů.)

Norma vydaná dňa 1.9.2010

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkoušky pohyblivých iontů pro tranzistory řízené polem (MOSFET).)

Norma vydaná dňa 1.9.2010

Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)
(Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.)

Norma vydaná dňa 1.10.2010

Control technology - Rules for the designation of measuring instruments (Endorsed by AENOR in May of 2009.)
(Technologie řízení - Pravidla pro označování měřicích přístrojů.)

Norma vydaná dňa 1.5.2009