Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Španělské národní normy UNE vydává společnost AENOR, která se věnuje rozvoji národní standardizace a certifikace ve všech průmyslových sektorech i v sektorech služeb. Jejím cílem je přispívat ke zlepšování kvality a konkurenceschopnosti společností a k ochraně životního prostředí.
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 24-1: Magnetic interference tests - Test 24a: Residual magnetism (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 24-1: Zkoušky magnetické interference - Zkouška 24a: Zbytkový magnetismus.)
Norma vydaná dňa 1.1.2013
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-1: Test 25a - Crosstalk ratio.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-1: Zkouška 25a - Odstup přeslechu.)
Norma vydaná dňa 30.9.2002
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss).
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-2: Zkouška 25b - Útlum (průchozí ztráty).)
Norma vydaná dňa 30.5.2003
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurement -- Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-3: Zkouška 25c - Degradace doby náběhu.)
Norma vydaná dňa 30.9.2002
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-4: Test 25d - Propagation delay.
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-4: Zkouška 25d - Zpoždění vlivem šíření.)
Norma vydaná dňa 30.9.2002
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-5: Test 25e - Return loss
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-5: Zkouška 25e: Potlačení odrazů.)
Norma vydaná dňa 18.5.2005
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-6: Zkouška 25f: Obrazec typu oko a kolísání (jitter).)
Norma vydaná dňa 18.5.2005
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-7: Test 25g - Impedance, reflection coefficient and voltage standing wave ratio (VSWR)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-7: Zkouška 25g - Impedance, koeficient odrazu a napěťový poměr stojatých vln (VSWR).)
Norma vydaná dňa 14.9.2005
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 25-9: Signal integrity tests - Test 25i: Alien crosstalk (Endorsed by AENOR in March of 2009.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 25-9: Zkoušky integrity a signálů - Zkouška 25i: Cizí přeslech.)
Norma vydaná dňa 1.3.2009
Vybraný formát:
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g (Endorsed by AENOR in February of 2009.)
(Konektory pro elektronická zařízení - Zkoušky a měření - Část 26-100: Uspořádání měření, zkoušky a doporučené zapojení a měření na konektorech série IEC 60603-7 - Zkoušky 26a až 26g.)
Norma vydaná dňa 1.2.2009
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 29730 až 29740 z celkom 64645 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-09-04 (Počet položiek: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.