Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods (Endorsed by AENOR in August of 2015.)
(Substrát se zabudovanými součástkami - Část 1-1: Kmenová specifikace - Zkušební metody.)

Norma vydaná dňa 1.8.2015

Device embedding assembly technology - Part 1: Generic specification for device embedded substrates (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2020.)
(Technologie montáže zabudovaných součástek - Část 1: Kmenová specifikace substrátů pro vnořené součástky.)

Norma vydaná dňa 1.1.2020

Device embedding assembly technology - Part 2-5: Guidelines - Implementation of a 3D data format for device embedded substrate (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in December of 2019.)
(Technologie montáže zabudovaných součástek - Část 2-5: Směrnice - Implementace 3D formátu dat pro substrát se zabudovanými součástkami.)

Norma vydaná dňa 1.12.2019

Device Embedding assembly technology - Part 2-602: Guideline for stacked electronic module - Evaluation method of inter-module electrical connectivity (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2021.)
(Technologie montáže zabudovaných součástek - Část 2-602: Směrnice pro vrstvený elektronický modul - Metoda hodnocení elektrické propojitelnosti mezi moduly.)

Norma vydaná dňa 1.10.2021

Device embedding assembly technology - Part 2-603: Guideline for stacked electronic module - Test method of intra-module electrical connectivity (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2025.)
(Technologie montáže zabudovaných součástek - Část 2-603: Směrnice pro vrstvený elektronický modul - Metoda zkoušení elektrické propojitelnosti uvnitř modulu.)

Norma vydaná dňa 1.5.2025

Cause and Effect Matrix (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2019.)
(Tabulka příčin a následků.)

Norma vydaná dňa 1.1.2019

Cause and Effect Matrix (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2019.)
(Tabulka příčin a následků.)

Zmena vydaná dňa 1.8.2019

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2017.)
(Technika měření piezoelektrických, dielektrických a elektrostatických oscilátorů - Část 1: Základní metody měření.)

Norma vydaná dňa 1.11.2017

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2018.)
(Techniky měření piezoelektrických, dielektrických a elektrostatických oscilátorů - Část 2: Metoda měření krátkodobé nestability fáze.)

Norma vydaná dňa 1.1.2018

Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators – Part 3: Frequency aging test methods (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in June of 2018.)
(Metody měření piezoelektrických, dielektrických a elektrostatických oscilátorů - Část 3: Zkušební metody stárnutí kmitočtu.)

Norma vydaná dňa 1.6.2018